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HITACHI Hitech F-2500 220-730 nm Spectrophotofluorometer 分光蛍光光度計
SOLD OUT sold
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•Capable of delivering sensitivity two times higher than the conventional model. (S/N ratio: 450 or better)
•Equipped with a multi-step slit of 2.5 to 20 nm, making it applicable to a variety of samples.
•Incorporates flexible software features such as versatile quantitative analysis function,
•data export function for Excel, print preview function, etc.
•Easy to control with a mouse in an icon-based operating environment.

Minimum sample requirement:0.6 mL (in use of standard 10 mm cell) ,
Photometric principle:Monochromatic light monitoring with ratio calculation,
Light source:150W xenon lamp in self-deozonating lamp housing,
Wavelength range(Excitation and emission sides);
220 to 730 nm, and zero-order light
Extendable up to 800 nm using an optional detector
Slit width;
2.5, 5, 10, 20 nm (on both excitation and emission sides),
Resolution:2.5 nm
Wavelength accuracy:+-3.0 nm
Wavelength scan speed:15, 60, 300, 1,500, 3,000 nm/min
Wavelength drive speed:12,000 nm/min,
Photometric value display range:0.000 to 9999,
Printer:Windows-compatible printer
Dimensions/weight Spectrophotometer unit:
500(W)-630(D)-270(H)mm,35 kg
Power requirements(spectrophotometer unit);
100,115,220,230,240VAC,@50/60Hz,400VA

仕様;
感度 S/N:800以上(RMS)
 水のラマン光:励起波長350nm、バンドパス5nm、レスポンス2秒
S/N:450以上(Peak to Peak)
 水のラマン光:励起波長350nm、バンドパス10nm、レスポンス2秒
最小試料量 0.6mL(標準10mm角セル使用時)
測光方式 単色光モニター比演算方式
光源 150W Xeランプ オゾン自己解消ランプハウス
測定波長範囲
(励起、蛍光側共) 220〜730nmおよび0次光
オプション検知器により800nmまで拡張可
バンドパス 2.5、5、10、20nm(励起、蛍光側共)
分解 2.5nm
波長正確さ ±3.0nm以内
波長走査速度 15、60、300、1500、3000nm/min
波長移動速度 12,000nm/min
測光値表示範囲 0.000〜9999
データ処理部 PC:WindowsXP Professional
プリンタ WindowXP 対応プリンタ
大きさ/質量 光度計本体:500(W)×630(D)×270(H)mm/35kg
消費電力
(光度計本体) AC100、115、220、230、240V 50/60Hz 400VA

機能;
波長スキャン測定 励起/蛍光/同期スペクトル
繰り返し測定/CAT
スペクトル補正 励起/蛍光側共220〜600nm
トレース、スケール変更、グラフ軸変換
ピーク・バレー検知
スムージング
ファイル間演算(+、−、×、÷)
微分(1次〜4次)
面積計算
時間変化測定 トレース、スケール変更
微分(1次〜4次)
レート演算
ファイル間演算(+、−、×、÷)
スムージング
面積計算
定量測定 検量線(1,2,3次、折れ線)、係数入力可
検量線トレース
統計演算
割込み測定、サンプルブランク測定、データ削除
ピーク比、ピーク面積、微分による定量
2、3波長演算
データ積算平均化


Control PC,Display,Mouse,Key board,CD-ROM*8,